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無損檢測
接觸角測量儀/測試儀
半導體面板接觸角測量儀利用機器視覺技術,自動識別基線和液滴輪廓,以拉普拉斯方程為理論基礎進行二次曲線擬合計算,得到接觸角值。減小了重力對液滴形狀的影響,消除了人為測試誤差。對于基線特征明顯的圖片可以實現(xiàn)全自動測試,對于基線特征不明顯的圖片需要手工指定基線位置。
更新時間:2025-10-14
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:569
水滴角測量儀利用機器視覺技術,自動識別基線和液滴輪廓,以拉普拉斯方程為理論基礎進行二次曲線擬合計算,得到接觸角值。減小了重力對液滴形狀的影響,消除了人為測試誤差。對于基線特征明顯的圖片可以實現(xiàn)全自動測試,對于基線特征不明顯的圖片需要手工指定基線位置。
更新時間:2025-10-14
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:292
水滴角測試儀 利用機器視覺技術,自動識別基線和液滴輪廓,以拉普拉斯方程為理論基礎進行二次曲線擬合計算,得到接觸角值。減小了重力對液滴形狀的影響,消除了人為測試誤差。對于基線特征明顯的圖片可以實現(xiàn)全自動測試,對于基線特征不明顯的圖片需要手工指定基線位置。
更新時間:2025-10-14
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:328
接觸角測試儀 利用機器視覺技術,自動識別基線和液滴輪廓,以拉普拉斯方程為理論基礎進行二次曲線擬合計算,得到接觸角值。減小了重力對液滴形狀的影響,消除了人為測試誤差。對于基線特征明顯的圖片可以實現(xiàn)全自動測試,對于基線特征不明顯的圖片需要手工指定基線位置。
更新時間:2025-10-14
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:292
接觸角測量儀 利用機器視覺技術,自動識別基線和液滴輪廓,以拉普拉斯方程為理論基礎進行二次曲線擬合計算,得到接觸角值。減小了重力對液滴形狀的影響,消除了人為測試誤差。對于基線特征明顯的圖片可以實現(xiàn)全自動測試,對于基線特征不明顯的圖片需要手工指定基線位置。
更新時間:2025-10-14
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